原裝MEGGER絕緣電阻和連續性測試儀方法

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原裝MEGGER絕緣電阻和連續性測試儀方法

MEGGER繼電測試儀細胞在移動設備上的突出顯示電路將自動填充結果。
完整的(de)測試一個系(xi)統(tong)后,所有結果(guo)(guo)保存(cun)在移(yi)動設(she)(she)備上可以下載到PowerSuite和(he)生成一個證(zheng)書(shu)。以這種方式使用移(yi)動設(she)(she)備的(de)一個好處是,所有系(xi)統(tong)可以存(cun)儲(chu)其他數據對(dui)結果(guo)(guo)的(de)影響,如客戶,地址,電路描述和(he)接地的(de)安排,不需要紙(zhi)質記錄。

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原裝MEGGER絕緣電阻和連續性測試儀方法

MEGGER繼電測試儀細胞在移動設備上的突出顯(xian)示電路將自動填充結(jie)果。
完整的(de)(de)測試一(yi)(yi)個(ge)系統(tong)后,所有結果(guo)(guo)保存在移動設備(bei)上可以下載(zai)到(dao)PowerSuite和(he)生成一(yi)(yi)個(ge)證(zheng)書。以這種方式使用移動設備(bei)的(de)(de)一(yi)(yi)個(ge)好處(chu)是,所有系統(tong)可以存儲其他數據對(dui)結果(guo)(guo)的(de)(de)影響,如客戶,地址(zhi),電路描述和(he)接地的(de)(de)安排,不需要紙質記錄(lu)。
與MFT1730是另一(yi)種結果(guo)都存儲在儀器的大內存為1000測試結果(guo),然后可(ke)以下載*進入PowerSuite一(yi)回(hui)到辦公(gong)室(shi)證書(shu)生(sheng)成(cheng)工作完成(cheng)后。

Megger設(she)計及制(zhi)造便(bian)攜式電力(li)測量設(she)備。Megger的產品可協(xie)助您(nin)(nin)和(he)您(nin)(nin)的客戶安(an)裝和(he)改善(shan)電力(li)設(she)備及其(qi)效率，降低成(cheng)本以及延長(chang)設(she)備的壽命(ming)。

成(cheng)立于(yu)1800年代后(hou)期，Megger一直以(yi)(yi)來設計及制(zhi)造電力測量的(de)測試和測量儀器，以(yi)(yi)進行(xing)防護性維護、疑難(nan)排解和運作，它的(de)產(chan)品為用(yong)家(jia)改善(shan)他們的(de)設備效率、降(jiang)低成(cheng)本、延長(chang)儀器壽命(ming)，以(yi)(yi)及透過趨勢研(yan)究和分(fen)析，預(yu)測設備故障和將來的(de)表現。Megger現在(zai)在(zai)各地(di)均設有分(fen)公司，現場銷售(shou)隊伍(wu)和分(fen)銷商(shang)遍布世界各地(di)，而生產(chan)基地(di)則位于(yu)英國(guo)(guo)、瑞(rui)典和美國(guo)(guo)。

MEGGER直(zhi)流電阻測試儀(yi)MIT41產品優點(dian)

 　使用載降壓測(ce)量法應(ying)注(zhu)意(yi)的以下幾(ji)點：

　　（1）不(bu)同型號數(shu)字(zi)萬用(yong)表電(dian)阻擋的滿量程測試電(dian)壓以及開路電(dian)壓有所(suo)不(bu)同，所(suo)以加載(zai)電(dian)阻R1的取值(zhi)范圍應由實驗來(lai)確定(ding)。
　　（2）操(cao)作時(shi)應先(xian)在數(shu)字(zi)萬(wan)用表V/Ω與COM插孔(kong)之間(jian)跨接好加載(zai)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)R1并由(you)數(shu)字(zi)萬(wan)用表在該電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)擋讀出R1的(de)實(shi)測(ce)值后方可(ke)進行在線電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)測(ce)量(liang)(liang)。不能先(xian)接被測(ce)電(dian)(dian)(dian)路后并聯電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)R1，這會因數(shu)字(zi)萬(wan)用表電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)擋的(de)測(ce)試電(dian)(dian)(dian)壓(ya)較高而便被測(ce)線路中的(de)硅管趨于導通而失去測(ce)量(liang)(liang)意義（產生較大的(de)測(ce)量(liang)(liang)誤差）。所(suo)以(yi)，這個順序不能顛倒。
　　（3）由于一般的(de)電(dian)路(lu)中與晶體(ti)管發射結(jie)、集電(dian)結(jie)相并聯(lian)的(de)電(dian)阻阻值多為(wei)kΩ～幾百kΩ，而幾十歐(ou)姆的(de)很少(shao)，所以在(zai)線測(ce)量時通常先將數字萬用表置(zhi)中阻擋(dang)(dang)(dang)(dang)，即200kΩ擋(dang)(dang)(dang)(dang)（此擋(dang)(dang)(dang)(dang)的(de)分辨率(lv)為(wei)0.1kΩ）或20kΩ擋(dang)(dang)(dang)(dang)。若測(ce)得R=R1．RX/（R1+RX）為(wei)O或很小(xiao)，則(ze)說(shuo)明被(bei)(bei)測(ce)電(dian)路(lu)有短路(lu)故(gu)障(zhang)（RX=0）或量程偏高(gao)，此時應(ying)改用低(di)阻擋(dang)(dang)(dang)(dang)（2kΩ擋(dang)(dang)(dang)(dang)）細(xi)測(ce)。若測(ce)得R=R1．RX/（R1+RX）與R1很接(jie)近，則(ze)說(shuo)明被(bei)(bei)測(ce)電(dian)路(lu)可能存在(zai)開路(lu)故(gu)障(zhang)（RX=∞）或量程偏低(di)，應(ying)換用高(gao)阻擋(dang)(dang)(dang)(dang)（2WΩ擋(dang)(dang)(dang)(dang)）復測(ce)。
　　（4）在(zai)(zai)線(xian)測量(liang)(liang)(liang)(liang)一般很少用(yong)200Ω電阻擋(dang)和20MΩ擋(dang)。因(yin)為加(jia)(jia)載(zai)電阻R1與(yu)被測電阻RX并聯，實際上已(yi)經擴展了(le)(le)電阻擋(dang)的(de)測量(liang)(liang)(liang)(liang)范圍，提(ti)高(gao)了(le)(le)測量(liang)(liang)(liang)(liang)高(gao)阻的(de)能(neng)(neng)力，所以一般使用(yong)2MΩ擋(dang)已(yi)經足(zu)夠(gou)(gou)了(le)(le)。另外，由(you)于2kΩ擋(dang)的(de)分辨率為1Ω，用(yong)該擋(dang)判(pan)斷被沒電路(lu)的(de)在(zai)(zai)線(xian)晶體(ti)(ti)管是否存在(zai)(zai)短路(lu)擊穿也已(yi)夠(gou)(gou)用(yong)了(le)(le)。一般情況不僅用(yong)三只(zhi)加(jia)(jia)載(zai)電阻就能(neng)(neng)滿足(zu)測量(liang)(liang)(liang)(liang)在(zai)(zai)線(xian)電阻的(de)需要。以DT830A型數字(zi)萬用(yong)表(biao)為例，其(qi)2kΩ擋(dang)取(qu)R1=R0=1kΩ，200kΩ擋(dang)取(qu)R1=0.47RO=47kΩ，2MΩ擋(dang)取(qu)R1=0.47R0=470kΩ。當然我(wo)們(men)也可以用(yong)一只(zhi)470kΩ的(de)電位器(qi)代替以上三只(zhi)加(jia)(jia)載(zai)電阻。
　　（5）測完(wan)在線電阻后(hou)切莫志記及時去掉跨接在數字萬用表V/Ω與COM插孔之(zhi)間的(de)加載(zai)電阻R1以免影響(xiang)萬用表的(de)正常使(shi)用和發生意外（測量高壓時)

Megger絕緣電阻和連續性測試儀產品特點：

.測(ce)試電壓 250 V、500 V 和 1000 V。 

. 可變(bian)測試電壓（新(xin)特性）* - 測試電壓可調，可從 10 V 調到 1000 V。 

. 測試電壓準確度為 2% - 輸出測試電壓保持在公差或 -0% +2% 的范圍內 

. “PASS"（通(tong)過）/“FAIL"（未(wei)(wei)通(tong)過）顯示（新特性）* - 顯示的“PASS"（通(tong)過）/“FAIL"（未(wei)(wei)通(tong)過）狀態取決于(yu)閾(yu)值電壓

. 穩(wen)化測試電壓(ya) - 電壓(ya)經過反饋(kui)控制(zhi)，可確保電壓(ya)在整(zheng)個測試量程內一直都符合規范 

. 測(ce)(ce)試電(dian)(dian)壓(ya)顯示（新(xin)特性） - 實際測(ce)(ce)試電(dian)(dian)壓(ya)顯示在(zai)(zai)較小的數(shu)字讀出器中，而測(ce)(ce)量(liang)結果則顯示在(zai)(zai)較大的數(shu)字顯示屏中。

MEGGER絕緣電阻技術指標

原裝MEGGER絕緣電阻和連續性測試儀方法